四月末的北京城，有漫天柳絮，有回暖的氣候。而最為重要的是第十五屆中國國際機床展覽會（CIMT 2017），來自展會主辦方的統(tǒng)計顯示，展會前兩日，共有55,361位專業(yè)觀眾進館參觀。區(qū)別于以往幾屆，本屆展會的觀眾更多帶著具體的項目合作或設(shè)備采訪清單前來，市場回暖跡象已經(jīng)初顯。

在全球目光的注視下，CIMT展會上的“首發(fā)”技術(shù)正不斷涌現(xiàn)，蔡司就在展會首日揭幕了一款亞洲首發(fā)及其他的新產(chǎn)品，在同期舉辦的新品發(fā)布會上，以“創(chuàng)新塑造計量未來，智能軟件”主題，和參會的觀眾進行了熱烈的探討與互動。在所展示的工業(yè)CT、三維測頭、機器人+光學(xué)測頭、智慧軟件等產(chǎn)品和解決方案中，未來的質(zhì)量保駕之道已經(jīng)明朗化了。
 

此次亞洲首秀的全新工業(yè)CT無損測量技術(shù)METROTOM，實現(xiàn)了錐束X射線斷層掃描與坐標(biāo)測量技術(shù)出色的融合，其兼具高精度與多功能的特點，有效取代傳統(tǒng)復(fù)雜耗時的檢測方式，解決產(chǎn)品難以觸及與隱藏部位的尺寸及形位公差測量、孔隙率分析、裝配檢驗、模具修改、逆向工程等業(yè)界應(yīng)用難題。能夠無縫對接塑料工程、鋁壓鑄、汽車、電子、精密機械及科研檢測等行業(yè)需求。

同時，值得關(guān)注的是，傳感器和測頭正為測量帶來前所未來的“高科技”體驗，這在蔡司的CIMT展位上隨處可見。此次展示的新型測頭ZEISS DotScan 白光測頭已經(jīng)整合到了整個蔡司測量系統(tǒng)。配備DotScan 共聚焦白光測頭的ZEISS ACCURA 多測頭平臺，也是市場上首次推出的裝于萬向旋轉(zhuǎn)測座上的白光測頭。

而新型光學(xué)傳感器LineScan：可在ZEISS CONTURA RDS 機型上應(yīng)用自如，能并帶來更精密、更可視化的測量。采用LineScan 可以擴展ZEISS CONTURA 的功能，它具有進行快速光學(xué)測量的特點。可實現(xiàn)對汽車零部件、模具及產(chǎn)品、以及需要對接觸敏感或結(jié)構(gòu)精細(xì)的表面進行測量。

作為新型粗糙度傳感器實現(xiàn)在蔡司三坐標(biāo)測量機（CMM）完成按標(biāo)準(zhǔn)對粗糙度和波紋度的檢測，新型ZEISS ROTOS 粗糙度傳感器在質(zhì)量保障檢測中，執(zhí)行一種新的、更加簡單的工作過程。其目的是在一臺測量機上進行尺寸、位置或外形檢測并可以對相同的工件進行粗糙度和波紋度測量。

此次參展的鎢燈絲掃描電鏡EVO，在質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)日益嚴(yán)苛的現(xiàn)代工業(yè)化產(chǎn)業(yè)中幫助客戶進一步檢測樣品的微觀形貌，它具有3nm的成像分辨率，無論是工件表面的微裂紋、斷口、還是夾雜物、第二相，在EVO的觀察下都清晰可辯，無可遁形。SEM在高分辨成像的同時還可以通過EDS能譜精確而高效地檢測模具裂紋、第二相或雜質(zhì)處的元素成分信息，從而更加深入地理解其失效過程。在蔡司，你既可以通過金相顯微鏡觀察材料組織還可以通過電子顯微鏡進一步放大微觀區(qū)域并作元素分析找到其失效源。光鏡和電鏡相結(jié)合的顆粒度分析幫助你嚴(yán)格把關(guān)汽車零配件、模具、精密機械以及航空零部件的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、并直接鎖定其失效源。

硬件技術(shù)不斷發(fā)展的大前提，軟件技術(shù)需要同樣的闊步前行。因此，蔡司PiWeb Reporting 已然成為測量機的主流配置。它作為ZEISS 測量軟件包的一部分，對測量結(jié)果進行分析和記錄。

對于蔡司來說，每次展會都是與客戶近距離的接觸以及了解客戶需求的最佳時機。為此蔡司一直在努力，讓客戶每次都能在我們的展位上發(fā)現(xiàn)不一樣的蔡司。蔡司始終把“助力客戶成功”作為我們的核心策略，因為客戶的成功才是我們的成功。